Título : |
Estadística y muestreo |
Tipo de documento: |
texto impreso |
Autores: |
Martinez Bencardino, Ciro |
Mención de edición: |
13 Ed. |
Editorial: |
Colombia : Ecoe ediciones |
Fecha de publicación: |
2012 |
Número de páginas: |
874p. |
Il.: |
il. |
Dimensiones: |
Rústica |
ISBN/ISSN/DL: |
978-958-648-702-3 |
Idioma : |
Español (spa) |
Palabras clave: |
ESTADISTICA MATEMATICA, ESTADISTICAS, MUESTREO(ESTADISTICA), PROBABILIDAD |
Clasificación: |
310 - Estadística general |
Nota de contenido: |
Capítulo 1. Conceptos generales. // Capítulo 2. Distribuciones de frecuencias. // Capítulo 3. Medidas de posición y de tendencia. // Capítulo 4. Medidas de dispersión, de deformación y apuntamiento. // Capítulo 5. Nociones elementales de probabilidad. // Capítulo 6. Distribuciones de probabilidad. // Capítulo 7. Distribuciones muéstrales. Muestreo aleatorio. // Capítulo 8. Pruebas de hipótesis y límites de confianza. // Capítulo 9. Otras pruebas de hipótesis. // Capítulo 10. Números índices. // Capítulo 11. Series cronológicas. // Capítulo 12. Regresión y correlación. // Capítulo 13. Algunos métodos de muestreo. |
Estadística y muestreo [texto impreso] / Martinez Bencardino, Ciro . - 13 Ed. . - Colombia : Ecoe ediciones, 2012 . - 874p. : il. ; Rústica. ISBN : 978-958-648-702-3 Idioma : Español ( spa)
Palabras clave: |
ESTADISTICA MATEMATICA, ESTADISTICAS, MUESTREO(ESTADISTICA), PROBABILIDAD |
Clasificación: |
310 - Estadística general |
Nota de contenido: |
Capítulo 1. Conceptos generales. // Capítulo 2. Distribuciones de frecuencias. // Capítulo 3. Medidas de posición y de tendencia. // Capítulo 4. Medidas de dispersión, de deformación y apuntamiento. // Capítulo 5. Nociones elementales de probabilidad. // Capítulo 6. Distribuciones de probabilidad. // Capítulo 7. Distribuciones muéstrales. Muestreo aleatorio. // Capítulo 8. Pruebas de hipótesis y límites de confianza. // Capítulo 9. Otras pruebas de hipótesis. // Capítulo 10. Números índices. // Capítulo 11. Series cronológicas. // Capítulo 12. Regresión y correlación. // Capítulo 13. Algunos métodos de muestreo. |
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